▣ 측정시스템분석이란?


     측정시스템으로부터 발생한 변동이 공정변동에 얼마나 영향을 미치는지를 분석하는 것이로,

     Minitab에서는 측정시스템의 정밀성(측정시스템의 산포) 여부를 판단하기 위해 Gage R&R

     연구와 Gage 런차트, Gage의 선형셩과 정확성을 조사하는 Gage 선형성 및 치우침 연구 메뉴를
 
     제공한다.

     계량형 데이터 뿐만 아니라 계수형 데이터에 대해서도 계수형 Gage 연구 메뉴를 제공하여

     분석을 할 수 있도록 하고 있으며, 여러 평가자가 제공한 등급의 합치도를 평가하도록 속성

     합치도 분석도 제공한다.

     * Green Belt 수준에서는 측정시스템의 정밀성 여부를 판단하는 Gage R&R 연구 정도를 수행할
 
     수 있을 것이다.


▣ 측정시스템의 오차

     측정시스템 오차는 정확도(평균 위치 문제)와 정밀도(측정시스템의 산포)의 두 범주로 분류할

     수 있는데, 정확도는 부품의 측정값과 실제값 사이의 차이를 말한다. 정밀도는 동일한 부품을

     동일한 장치로 반복해서 측정했을 때 나타나는 변동을 말한다. 어떤 측정시스템을 사용하든

     어러한 문제 중 하나 또는 둘 다 발생할 수 있다.

     예를 들어 부품을 정밀하게 측정하여 측정값 간에는 변동이 거의 없지만 정확하게는 측정하지

     못하는 장치가 있을 수 있고, 부품을 정확하게 측정하여 측정값의 평균이 실제값에 거의 근접

     하지만 정밀하게 측정하지 못하는 장치가 있을 수 있다.


▣ 정확도(Accuracy)와 정밀도(Precision)

▣ Gage R&R 연구

     측정시스템의 구성요소인 측정자와 측정기의 변동이 공정에 얼마나 영향을 주는지 통계적으로
 
     분석하는 방법

        ▶ 통계적 관계 : 총 변동(Total Variance) =  부품간 변동 + Gage R&R 변동

▶ Gage R&R 변동 = 반복성의 변동 + 재현성의 변동

                        = 측정기 변동 + 측정자 변동 

                        = 측정기 변동 + 측정자 변동 + 측정자와 측정기의 교호작용 변동

 

▣ 일반적인 Gage R&R 실시 방법

▣ 일반적인 Gage R&R 평가 방법